iVbrómetro láser con sistema completo de análisis y caracterización de MEMs, MOEMs y otras microestructuras. Tres tecnologías integradas en un mismo sistema:
- Vibrómetría doppler para medición “out of plane”
- Microscopía estroboscópica para medición “in plane”
- Interferometría de luz blanca para topografía superficial
de microestructuras...